Статья

Оптические микроскопы выходят на новые рубежи

27.09.2006, Ср, 18:09, Мск

Учеными из Германии и Великобритании получены первые изображения биологических и наноэлектронных материалов с использованием новых суперлинз с отрицательным показателем преломления.

Метод сканирующей оптической микроскопии ближнего поля (SNOM, Scanning Near-field Optical Microscope) позволяет значительно повысить пространственное разрешение оптических микроскопов по сравнению с классическими и получил широкое распространение. При этом исследуемый образец освещается через диафрагму с поперечным размером менее длины волны, а сама диафрагма расположена в ближнем поле образца - на расстоянии менее длины волны от него.

SNOM-микроскопия позволяет существенно улучшить разрешение микроскопа, поскольку в этом случае оно лимитируется не длиной волны используемого излучения, но размером самой диафрагмы.

Новая модификация SNOM-методики с использованием "суперлинз", обладающих отрицательным коэффициентом преломления, позволила дополнительно повысить разрешение микроскопа.

Суперлинзы используют удивительный эффект отрицательного преломления, который состоит в том, что световое излучение при прохождении границы раздела сред преломлялось "в неправильную сторону". Поведение света в таких средах впервые рассматривалось еще в 1960-е годы советскими физиками.

Искусственная среда с отрицательным показателем преломления позволяет фокусировать световое излучение в область размером меньше, чем длина волны света, т. е. лучше, чем это в принципе способны сделать обычные линзы.

Короткая ссылка на материал: //cnews.ru/link/a1404